隨著科學技術的飛速發展，各行各業(ye) 對各種氣體(ti) 的要求越來越高，特別是氣體(ti) 中微量水分的測量就顯得更加重要。 露點法是一種古老的溫度測量方法、隨著電子技術的發展，露點技術趨於(yu) 完善。現代的光點露點儀(yi) 采用熱電製冷，並且可以自動補償(chang) 零點和連續跟蹤測量露點。露點儀(yi) 建立在可靠的理論基礎上，具有準確度高，測量範圍寬的特點，其準確度僅(jin) 次於(yu) 重量法濕度計。因此，它不僅(jin) 是一種工作儀(yi) 器，而且也是長期以來普遍采用的標準儀(yi) 器。露點儀(yi) 廣泛用於(yu) 工業(ye) 過程和實驗室的溫度測量與(yu) 控製，以及氣體(ti) 行業(ye) 中水分指標測量等。在現代溫度測量技術中占有相當重要的位置。 如何正確使用露點儀(yi) 以及在實際測量中應注意的問題：
1. 鏡麵的汙染對露點測量的影響 在露點測量中，鏡麵汙染是一個(ge) 突出的問題，特別是工業(ye) 流程氣體(ti) 分析汙染的影響是比較嚴(yan) 重的，但即使是在純氣體(ti) 的測量中鏡麵的汙染亦會(hui) 隨時間的增加而積累。為(wei) 了消除汙染的影響，*直觀的方法是對被測氣體(ti) 進行過濾。同時根據具體(ti) 情況定期或隨時清洗鏡麵。此外，通過對鏡麵的加熱，並通氣吹除汙染雜物，在汙染比較明顯的情況下也可以多次重複進行節露和消露過程來實現。
2. 低霜點測量中的問題 露點儀(yi) 是微量水測量中為(wei) 數不多的*有效的手段之一。但是在測量中有些問題必須給予充分的注意。首先是影響檢測的霜層厚度問題。在低含水量的情況下，霜層很薄，變化也慢，增加了檢霜的困難，如露點低於(yu) -65℃，鏡麵上水分子移動性很小，結晶速度相應下降，從(cong) 霜層的出現到相對穩定需要一定時間。霜點溫度越低，困難越大，測量誤差也迅速增加。
研究表明，當霜點溫度接近-85℃是鏡麵上形成藍色絲(si) 狀結晶的薄霧。在這個(ge) 溫度附近霜層的質量密度10-8gm-2相當於(yu) 一個(ge) 分子層的厚度，由此可見，在更低的霜點溫度下測量是難以進行的。
另一個(ge) 是過程問題，這種現象容易在高空探測中發生。 在低溫下，由於(yu) 冰的結晶過程緩慢，往往在達到霜點溫度時霜層還未出現，當溫度繼續降低，水開始結冰，在過飽和狀態下霜層迅速形成。但此時的飽和水氣壓不是冰而應該是過冷水的飽和水氣壓，如上所述，由於(yu) 過冷現象，霜點測量誤差有時高達幾度，因此，低霜點測量要特別小心，保持足夠長的平衡時間。
除上所述還需注意下列幾個(ge) 問題。 ü 氣路係統一定要密封性好，以防止外界環境水分往裏滲漏 ü 如果被測氣體(ti) 直接排放入大氣，應考慮大氣中的水分向測量係統內(nei) 部擴散的問題，*常用的辦法時在排氣口接上一段適當長的管子，其長度個(ge) 管徑以不影響測量腔的壓力為(wei) 原則。 ü 取樣管要盡量短，盡量減少接頭的數量和避免“死空間”，以減少本底水分的幹擾。 ü 取樣管道要選用滲水性強的材料，如不鏽鋼，聚四氟乙烯等。